3D UNİVERSAL PROFİLOMETRELER GENEL ÖZELLİKLERİ
Özellikler
- 4 tekniği tek kafada birleştirme
- Otomatik raporlama
- Aynı profil oluşturucu ile çoklu görüntüleme modu:
- Beyaz ışık girişim ölçümü (WLI)
- Dönen disk eş odaklı
- Parlak alan görüntüleme
- Karanlık alan görüntüleme
- Değişken odaklı görüntüleme
- Nanometre altı ile en yüksek hassasiyet çözünürlük (0.7 nm)
- Manuel veya otomatik taret (6 hedef)
- Mikroskop görüntü alanı boyutu, kolayca tam otomatik genişletilebilme
- ISO ve ASTM’ye uygun analiz paketi yüzey dokusu için endüstri standartları, pürüzlülük, dalgalanma, …
- Her türlü yüzeyin analizi (şeffaf, koyu, pürüzlü, pürüzsüz, düz ve düz olmayan)
